设计和测试技术理论与实践

【书名】 设计和测试技术理论与实践
【作者】 朱珉
【出版社】 南京东南大学出版社
【出版时间】 2016.1
【关键词】 集成电路芯片设计集成电路芯片测试
【摘要描述】 本书共分章内容首先,整体介绍设计技术的发展现状和重点问题。
其次,系统讲述硬件描述语言、可编程逻辑器件、逻辑综合、自动布局布线等理论知识。
第三,融合工程实践,对设计和测试流程中的理念和方法展开论述。
【中国图书分类号】 TN402

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