集成电路芯片测试

【书名】 集成电路芯片测试
【作者】 王芳,徐振
【出版社】 杭州浙江大学出版社
【出版时间】 2014.03
【关键词】 集成电路芯片测试
【摘要描述】 集成电路测试业目前正成为集成电路产业中一个不可或缺的独立行业。
本书主要从职业道德、语言、自动分选机、测试机系统及应用以及常用的仪器元件、常见产品测试实例等几个方面着手,比较系统地阐述了成品测试的重要组成步骤,是微电子专业学生进行集成电路测试岗位培训的必修知识。
【中国图书分类号】 TN407

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